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GDUT-320經(jīng)典版

應用：

該儀器用于檢測多種材料內(nèi)部的缺陷（鋼、鐵、銅等），可有效檢測出氣孔、裂紋、疏松、夾雜等缺陷，功能實用，是筆記本式數(shù)字超聲波探傷儀，應用在壓力容器制造、金屬鋼結(jié)構(gòu)、船舶制造、機械制造、電力、化工、石油機械、汽車、冶金、高校等行業(yè)。 

功能特點：

1. 三十個獨立探傷通道，各通道探傷參數(shù)可存儲在SD卡上（可轉(zhuǎn)存至電腦PC機上），  不丟數(shù)據(jù)；中文觸摸式鍵盤，操作過程亦有中文提示。

2. 鍵盤左右切換，新增補償增益功能，調(diào)試設備和工件探傷準確方便。

3. 儀器內(nèi)存有JB4730、GB11345、DL/T820、ASM/API/Other等標準，DAC曲線自動生成。

4. 內(nèi)置有大平底、平底孔鍛件探傷方法，AVG曲線自動生成，自動計算鍛件探傷靈敏度，可實時顯示缺陷孔徑Φ值。

5. 手動、自動校驗探測功能兩種模式；只需找準高波，可實現(xiàn)探頭自動校準（始偏、K值），亦可測試材料聲速。 

6. 三角聲程測量數(shù)據(jù)和SL值（DAC）、缺陷孔徑（AVG）當量顯示，聲程數(shù)據(jù)可用毫米和微秒（聲波傳輸飛行時間）顯示。

7. 屏幕凍結(jié)定量功能，隨時捕捉波形，包括峰值記憶和包絡波形。

8. 報警功能包括進波門、DAC門、AVG門定位聲光報警，門位、門寬和門高可任意調(diào)節(jié)；另有一路模擬音頻報警信號輸出（可接頭戴式耳機，用于環(huán)境噪聲大的場合，也可接駁外置報警裝置）；

9. 彩色TFT液晶屏顯示動態(tài)變化顏色的波形，可以在從明亮、陽光直射到完全黑暗的環(huán)境中高對比度地觀察波形。液晶屏快速的響應時間（60Hz刷新率）能夠保證在快速掃查時回波也顯示無遺；確保無漏檢之憾。 

10. 數(shù)據(jù)輸出包括一個 USB 接口、一個LAN以太網(wǎng)接口、一個SD卡插槽，存儲器的容量擴充至10萬個波形數(shù)據(jù)/通道探傷參數(shù)（1G SD卡）；

11. 體積小（外形尺寸220X185X55 mm），重量輕，帶電池僅1.38Kg；使用進口高能鋰離子充電電池，工作時間達4.5小時。

性能指標：

1. 高頻采樣，60Hz屏幕刷新率，工作頻率范圍0.1-40MHz，

2. 顯示屏：5.7〞高亮度、高分辨率彩色TFT液晶顯示屏

3. 增益：110dB(0.1、2、6、步距調(diào)節(jié)，亦可直接輸入增益值)

4. 聲程顯示范圍0.1-7.5mm(鋼縱波)

5. 探測范圍：0.1-8000mm(鋼 縱波)

6. 聲速范圍：1m/s～99999m/s（1mm步距調(diào)節(jié)，亦可直接輸入聲速值）

7. 動態(tài)范圍：      > 30dB

8. 垂直線性誤差：  < 3 % 

9. 水平線性誤差：  < 0.3% 

10. 噪聲電平        < 10%

11. 靈敏度余量：          > 55dB(探頭2.5P Φ20，試塊 200mm Φ2平底孔) 

12. 脈沖移位：    0.0～3000mm 

13. 探頭延時：    0.00us～50.00us，分辨率0.01us 

14. 掃描分辨率：0.1mm (0～100mm)；1mm (100～1000mm)；10mm (1000～8000mm) 

標準配置：

1. 主機：  一臺（不含電池）。

2. 精品儀器保護包：一套（適用高空或野外作業(yè)）

3. 電源：  一套（3800mHA鋰離子電池一塊，充電器一只）。

4. 探頭： 直探頭2.5P Φ20，一個；斜探頭2.5P 13X13 K2，一個。

5. 探頭線：C9-Q9一根。

6. 讀卡器： 一個；SD卡：一個（容量隨機）。

7. 文件資料：說明書一份，合格證一張，保修卡一張，裝箱單一份。

8. 技術資料：拷貝在SD卡內(nèi)，含探傷儀電子文檔說明書、探傷數(shù)據(jù)處理軟件、常用探傷標準、超聲波探傷常識。

9. 鋁合金專用儀器箱一只

A型脈沖反射法探傷的基本原理

超聲探傷是利用人耳聽不見的超聲波，在不損壞被檢對象的情況下，進行材料和（零）部件內(nèi)部缺陷的探測，其中包括金屬與非金屬原材料內(nèi)部缺陷的探測；粘接或焊接缺陷的探測,可有效檢出缺陷的位置、大小和性質(zhì)。

超聲波探傷儀的作用是產(chǎn)生電振蕩并施加于換能器晶片（探頭）上，使晶片以一定的頻率振動，當振動的晶片被耦合到工件上以后，便在工件內(nèi)形成超聲波并以一定速度在工件內(nèi)部傳播，當超聲波遇到缺陷或工件底面時，就會引起反射，反射后的超聲波返回到晶片，并被晶片轉(zhuǎn)換為電脈沖信號，信號進行放大經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換及一系列的處理后以波形的形式在探傷儀顯示器上顯示出來。 

直探頭探傷中的幾種常見缺陷類型：